单晶斜探头和双晶斜探头的区别是什么?

单晶斜探头和双晶斜探头的核心区别在于晶片数量和工作方式。单晶斜探头只有一个晶片，既发射也接收超声波；双晶斜探头有两个独立晶片，一个发射一个接收，能减少杂波干扰，适合检测近表面缺陷。

区别

单晶斜探头：使用单个晶片完成超声波发射和接收。检测时，晶片先发射声波再接收反射信号，容易受到表面噪声影响。适合检测较厚工件，但近表面区域检测效果较差。价格较低，维护简单，常用于普通厚度材料的探伤。

双晶斜探头：配备两个独立晶片，发射和接收功能分开。发射晶片发出声波，接收晶片专门捕捉缺陷信号，有效抑制表面杂波。近表面检测灵敏度高，分辨率强，适合薄板或近表面缺陷检测。结构复杂，价格较高，常用于精密检测场合。